您现在的当前位置: 首页 >> 新闻中心
鍏徃鏂伴椈

【技术贴】光伏组件LID和LeTID测试

发布时间:2019-9-19 13:16:57 浏览次数:435

 

  在光伏行业发展形势一片大好的情况下,光伏电站也出现了一些问题,其中最常见的就是光伏组件功率衰减幅度较大,它对电站运营商及组件厂商都产生了深远影响。

  本文从LID和LeTID两个方面简单分析了组件功率衰减的原因,希望能给电池片及组件生产厂家提供一些参考,提高组件质量。

 

一、LID机理

  LID全称是Light Induced Degradation的缩写简称,也就是“光致衰减”。通常情况下,只要光伏组件暴露在阳光下就会发生LID,在短时间(几天或几周)内就能达到饱和的衰减。

  LID衰减产生机理主要是硅材料内的硼氧缺陷。因为晶体生长方法的差异,单晶硅材料内间隙氧含量远高于多晶,从而LID衰减也远高于多晶。

  两到三年前PERC技术的推广还受限于LID(光致衰减),随着抗LID衰减技术的突破使LID得到比较有效的控制,加之设备的广泛应用,PERC技术得以大规模导入。PERC使用了背钝化技术,有效寿命增加,电池效率大幅度提高,但是硼氧缺陷对造成的光衰也相应大幅度增加,PERC技术的大规模导入得益于抗LID衰减技术和设备的广泛应用。

 

二、LeTID机理

  LeTID是Lightand elevated Temperature Induced Degradation的缩写简称,业界称为“光照和高温诱导衰减”,或者叫“光热衰减”。名称有些拗口,但是值得大家花些时间去了解它,因为它会极大地影响你的太阳能组件和电站发电性能。

  LeTID衰减机理与LID不同,它通常发生在光照和高温(>50°C)两个条件同时满足的情况下。PERC组件在实验室的测试条件和电站实际工作环境中都存在LeTID(光热衰减)现象。

  LeTID衰减最先在多晶上发现,之后Hanwha Q-cells发表的论文确认在单晶、多晶PERC中都存在。2018年9月Fraunhofer在EU PVSEC发表的研究结果显示,市场上获取的商业组件,单多晶PERC组件都普遍存在LeTID,而单晶PERC的LeTID衰减远大于多晶PERC。

  LeTID现象具有普遍性。其普遍性体现在不同的硅材料和电池结构都有可能发生LeTID,在组件工作温度超过50°C时,不论是单晶还是多晶PERC组件都会发生LeTID(光热衰减),衰减率最高可达10%。并且其对于产品的影响程度不尽相同,这又突出了LeTID的复杂性。

 

三、LID和LeTID的特性

  如果LID体现的是正常温度下的、且在短时间(几天,一两个月)就能达到饱和的衰减,那么LeTID则是高温下(75℃或更高)、且较长时间(数月到数年)内才能达到饱和的衰减。

  导致LeTID衰减的机制包括氢致衰减、钝化衰减、金属杂质等,而PERC电池的构造都与这些机制有关。如果大家觉得LeTID既绕口又难懂,我们觉得叫它高温LID(Light Induced Degradation at elevated temperature)更直观。

 

 四、那么LID和LeTID是一回事吗?

  LeTID(高温LID)和LID是不同测试温度下所体现出来的不同衰减行为,参与高温LID衰减的影响因素更多,影响程度也更大。

  因为历史原因,目前行业普遍采用的LID测试温度是比较低的(低于50℃),因此并不能充分暴露PERC电池和组件产品的高温衰减风险。这也是很多厂家宣称LID衰减控制良好,但高温LID衰减却很大的原因。有些厂家过于轻视高温LID衰减风险,简单地采用改变掺杂的硅片来降低LID衰减,殊不知一叶障目,产品质量风险巨大。

 

五、总结和建议

  1.LeTID(高温LID)和常规LID机理不同,不能混为一谈;

  2.LeTID对组件发电量的确有很大影响,必须重视;

  3.Fraunhofer在对市场上现有的光伏组件产品盲测中发现,单晶PERC组件比多晶LeTID(高温LID)更严重;

  4.光伏行业应加速出台新的测试标准,电池片和组件光衰测试不能只考虑常规LID,必须加严测试条件保证LeTID,即高温LID的测量。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

[ 返回 ]

版权所有:常州华阳检验检测技术有限公司 备案号:苏ICP备12014738号 联系人:成吉 先生 E-MAIL:j.cheng@skysolargroup.cn
Tel: 0519-85503573 18915883006 技术支持:通睿信息 [ 网站管理]
网站访问统计: